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手持式合金分析儀的是一種XRF光譜分析技術
2021-1-25
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手持式合金分析儀在金屬制造行業中，材料、半成品、成品的質量與質量控制（QA/QC）是*的，混料或使用不合格材料必給企業帶來損失。手持式合金分析儀被廣泛用于從小型金屬材料加工廠到大型的飛機的各種制造業。已成為質量體系中材料確認、半成品檢驗、成品復檢的儀器。手持式合金分析儀的是一種XRF光譜分析技術，可用于確認物質里的特定元素，同時將其量化。它可以根據X射線的發射波長(λ)及能量(E)確定具體元素，而通過測量相應射線的密度來確定此元素的量。如此一來，XRF度普術就能測定物質的元素...
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光學薄膜厚度測量儀的四大優點和應用領域介紹
2020-12-25
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光學薄膜厚度測量儀是一種非接觸式測量儀器，一般會運用在生產廠商生產產品的過程，由于誤差經常會導致產品全部報廢，這時候就需要運用光學薄膜厚度測量儀來介入到生產環境，避免這種情況的發生。由于是光學測量，在測量時候無須擔心破壞樣品，讓用戶簡單快速地測量薄膜的厚度和光學常數，通過對待測膜層的上下界面間反射光譜的分析，幾秒鐘內就可測量結果。光學薄膜厚度測量儀的優點：1.非接觸式測量光學薄膜厚度測量儀采用的原理是通過光的反射原理對膜層厚度進行測量，屬于非接觸式測量方法，不會對樣品造成任何...
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薄膜厚度測量儀的主要功能有哪些呢？
2020-11-24
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薄膜厚度測量儀的測試方法主要有：磁性測厚法，放射測厚法，電解測厚法，渦流測厚法，超聲波測厚法。在做測厚的時候要注意以下八點：1、在進行測試的時候要注意標準片集體的金屬磁性和表面粗糙度應當與試件相似。2、在測量的時候要注意，側頭與試樣表面保持垂直。3、在進行測試的時候要注意基體金屬的臨界厚度，如果大于這個厚度測量就不受基體金屬厚度的影響。4、在測量的時候要注意試件的曲率對測量的影響。因此在彎曲的試件表面上測量時不可靠的。5、測量前要注意周圍其他的電器設備會不會產生磁場，如果會將...
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高性能X射線熒光分析儀的基本原理以及使用注意事項
2020-10-28
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X射線熒光分析是確定物質中微量元素的種類和含量的一種方法，是利用原級X射線光子或其它微觀粒子激發待測物質中的原子，使之產生次級的特征X射線(X光熒光)而進行物質成分分析和化學態研究。高性能X射線熒光分析儀基本原理：當能量高于原子內層電子結合能的高能X射線與原子發生碰撞時，驅逐一個內層電子而出現一個空穴，使整個原子體系處于不穩定的激發態，激發態原子壽命約為10-12-10-14s，然后自發地由能量高的狀態躍遷到能量低的狀態。這個過程稱為馳豫過程。馳豫過程既可以是非輻射躍遷，也可...
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主動消磁的結構組成以及相關特點
2020-10-26
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現今的高性能電子束儀器對變化的環境磁場非常敏感。當周遭的磁場改變時會使電子顯微鏡的電子束產生偏折并造成影像解析度或測量精度下降。主動消磁系統系統可降低環境交流磁場并恢復分辨率和精度。主動消磁系統主要是由磁場控制器、一或兩個感測探頭及三軸向多芯的線圈組成，并安裝在電鏡房間內以產生反向磁場并改善外部磁場問題。系統針對外部磁場變化為自動響應，響應時間小于100微秒。AC線路場（50/60Hz）減少50x。主動消磁系統無法消除電梯、火車和交通等直流電場變化干擾源。若需要同時消除交流磁...
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使用XRF鍍層測厚儀時應當遵守的規定有哪些呢？
2020-9-27
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使用XRF鍍層測厚儀時應當遵守的規定有哪些呢？覆層厚度的測量方法主要有：楔切法，光截法，電解法，厚度差測量法，稱重法，X射線熒光法，β射線反向散射法，電容法、磁性測量法及渦流測量法等。這些方法中前五種是有損檢測，測量手段繁瑣，速度慢，多適用于抽樣檢驗。X射線和β射線法是無接觸無損測量，但裝置復雜昂貴，測量范圍較小。因有放射源，使用者必須遵守射線防護規范。X射線法可測極薄鍍層、雙鍍層、合金鍍層。β射線法適合鍍層和底材原子序號大于3的鍍層測量。電容法僅在薄導電體的絕緣覆層測厚時采...
